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    年度110
    等級其他
    論文名稱Instrumentation of Twin-MCMs based Mutual-Test
    全部作者Wang, S.S.P.; Y.T. Wang; C.-L. Chao; W.-B. Yang
    卷數Microelectronics Journal 114, 105108
    ISSN(ISBN)0026-2692
    使用語言英文
    備註期刊論文
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